国家标准 GB/T32267一2015 分析仪器性能测定术语 Terminologyofperformaneetestngforamalytealinstrument 2015-12-10发布 2017-01-01实施中毕人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管厘委员会国家标准
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GB/T32267一2015 前言本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草本标准由科学技术部提出本标准由全国仪器分析测试标准化技术委员会归口(SAC/TC481) 本标准起草单位;标准化研究院、分析测试协会、计量科学研究院、北京大学、清华大学,北京有色金属研究总院,军事医学科学院本标准主要起草人;张宝林、计雄飞、赵羽、张渝英、汪正范、李红梅、戴新华,甘克勤、王霞、邓勃、刘国诠,臧慕文、张德添,、章晓中,苏焕华、王超群,颜贤忠,刘虎威,李美仙,骆东森,赵敏
GB/T32267一2015 分析仪器性能测定术语范围本标准界定了分析仪器性能测定的相关术语和定义本标准适用于涉及电子光学仪器,质谱仪器、x射线仪器、光谱仪器,色谱仪器,波谱仪器,电化学仪器,光学显微镜及图像分析仪器、热分析仪器9大类分析仪器性能指标测定的各级标准、技术文件、书刊的编写基本术语 2.1 检出限deteetionlimit 在一定的置信度下由特定的分析方法能够检出的可分辨的最小分析信号.rL求得的最低浓度cL(或质量g e(或者g)=(G-司)/n- n 式中最小分析信号平均值; .T 空白信号平均值 .x 校准曲线在低浓度范围内的斜率; mn 与置信度有关的因子空白信号值的标准偏差 s 注:国际理论和应用化学联合会(IUPAC)规定,r和S通过实验以足够多的测定次数n>10求出推荐k=3,在测定值遵从正态分布的条件下,置信度为99.73% 3倍空白信号值的标准偏差所对应的浓度(或质量)即为检出限 2.2 定量限qwantificationlimit 定量分析方法实际可以测定的某组分的下限注:IUPAC规定以10倍空白信号值的标准偏差所对应的浓度(或质量)为定量限 2.3 灵敏度snsitity 被测量物的浓度(或质量)变化一个单位所引起的测量信号响应量的变化注:也可以理解为校正曲线的斜率准确度accuraey 一定测量条件下被测量物的测得值与其真值的接近程度在一注:通常所说的真值,是指理论真值(如三角形的内角之和等于180"),约定真值(国际会议、标准化组织或国际上公认的量值)和相对真值(如标准物质证书上给出的量值) 排除了所有测量上的缺陷时通过完善的测量所得到
GB/T32267一2015 的量值充分接近于真值,对于给定的目的来说,可用以替代真值如在测定值遵循正态分布的条件下,算术平均值可以作为真值的无偏和最优估计值,随着测定次数的增多,算术平均值越逼近真值 2.5 精密度 preeision 在规定条件下多次重复测量同一量时各测量值彼此相符合的程度注通常用标准偏差或相对标准偏差表示 2.6 重复性 repeatability 在同一实验室,由同一操作人员使用相同的设备,按相同的测试方法在相同的测试条件下,对同一被测定量在短时间内相继独立进行多次测定的精密度 2.7 再现性reproducibilty 在同一或不同的实验室,由不同的操作人员使用相同类型的不同设备,按相同的测试方法,对同一被测定量独立进行多次测定的精密度注:在同一实验室,由同一操作人员使用同一设备或相同类型的不同设备,按相同的测试方法,在不同时间内对同 -被测定量独立进行多次测定的精密度,也视为再现性 2.8 校正曲线calibrationcure 表示测量值与物质质量、体积,浓度等特性量之间关系的曲线校正曲线法ealibrationcurvemethod 在分析测试中,用所建立的校正曲线求出被测组分量值的方法 2.10 标准加入法standardadditiommethodt 在待测样品中加人被测组分的标准品,作为被测组分量的参照标准,根据信号的增加量求出被测组分量值的方法注为消除试样基体的物理和化学干扰所采用的一种方法取几份(例如5份)等量的试料溶液,除了一份(浓度为 c,)外,其余按顺序加人不同量的被测组分的标准溶液,并稀释至一定的相同体积设ca,.ci,c.cs.c分别代表它们的浓度,所测得的物理量对应地为M,M,M、M,M 将被测物理量M对浓度e作图,得到的直线外延与浓度坐标相交,交点为c,,即为试样中被测组分的浓度 2.11 internalstandardmethod 内标法将一定量的内标物加到一定量的被分析样品中,然后对含有内标物的样品进行分析,分别测定样品中被测组分和内标物的信号值,用被分析样品与内标物信号值的比值对样品中被测组分含量建立校正曲线,或求得相对校正因子以进行定量的方法 2.12 误差 errOr 测定值与其真值之差 2.13 偏差deviatiom 测定列中单次测定值与该测定列的平均值之差 2.14 标准偏差 standarddeviation 标准差
GB/T32267一2015 方差平方根的绝对值,表示测量精密度的一种常用的方法数学表达式为 (r，一)/(u一1 式中标准偏差; 为单次测定值 n次测定的平均值; 样本数目 2.15 相对标准偏差relatiestandarldeviaton;RsD 标准偏差与平均值之比,用于比较测定数据的相对离散程度的参数,见下式: RSD=一×100% r 式中: -标准偏差次测定的平均值 -n 2.16 correlationcoefficient 相关系数表征分析信号与被测物质量或浓度之间线性相关程度的一个参数相关系数检验可确定校正曲线的线性动态范围 2.17 ofeasurement 测量不确定度 uncertainty 不确定度 uncertainty 根据所获信息,表征赋予被测量值分散性的非负参数 2.18 分辨率resolution 仪器区别相近信号的能力 2.19 仪器稳定性stabiltyoftheequipment 在规定的工作条件下,在规定的时间内,仪器保持测定值随时间在限定范围内变化的能力注1;可用启动时间,基线漂移(静态基线漂移和动态基线漂移),零点漂移表征注2;分短期稳定性和长期稳定性 2.20 基线漂移 baselinedrift 在规定的工作条件下和时间内,基线的缓慢变化 2.21 零点漂移 zerodrift 在规定的工作条件下和时间内,零点读数的偏移 2.22 吸收系数absorptioncoefreient 吸光系数absorptivity 表征吸光物质对指定频率辐射的吸收能力的参数,表达式为 1=loe
GB/T32267一2015 式中: 出射光强度; 人射光强度; I 吸收系数; 吸收厚度注:在光度分析中,以质量浓度(g/L)表示吸光物质浓度的吸收系数称为质量吸收系数,以4表示,单位为升每克厘米[Lg”cm];以浓度(molL)表示吸光物质浓度的吸收系数称为摩尔吸收系数,以e表示,单位为升每摩尔厘米[L/molem] 在固体X射线分析中常用质量吸收系数,以表示,单位为平方厘米每克(cm'/g) 2.23 线性吸收系数linearabsorptioncoefficient 线性衰减系数 A1 一束平行的x射线通过1cm均匀物质厚度时其强度的相对衰减量注1;强度为l 的平行人射X射线束通过吸收厚度的物质后,其强度衰减为1,根据波格-朗伯(Bouguer Lambert)光吸收定律,I=l.e一"" 注2:单位为每厘米[em] 2.24 质量吸收系数massabsorptioncerrieient m 一束平行的X射线通过1g均匀物质时其强度的相对衰减量注1:质量吸收系数然与线性吸收系数然的关系是然 =A/p是吸收物质的密度,单位为克每立方厘米(g/ cm'. 注2:单位为平方厘米每克(cm/E). 2.25 基体效应校正matrixefreetcorreetion 对试样中与被测组分共存的常量组分(基体)对被测组分的测量信号或测定量值所产生的影响进行的校正注基体所产生的影响包括光谱干扰、物理干扰和化学干扰及记忆效应等 2.26 启动时间 startuptime 从仪器接通电源到获得稳定测量数据的正常工作状态所经过的时间 2.27 测量范围 measurementrange 仪器能测量的信号上限值与下限值或能测定被测组分量值的最大值与最小量值所跨越的区间 2.28 量程range 仪器所允许显示或记录的测量信号上限值与下限值的范围 2.29 阔值thresholadvalue 能使仪器输出端产生可测变化量的被测量的最小变化量 2.30 参考物质refereneematerial 用来校准仪器、评价测量方法或给材料赋值的一个或多个性质已经充分研究的材料或物质
GB/T32267一2015 电子光学仪器 3.1 点分辨率pointresolutionm 通常是用一台光学显微镜从TEM拍摄的标准样品底片或图像上,寻找到刚能区分开间距的两个小颗粒中心之间的距离注，单位通常以纳米(nm)表示 3.2 晶格分辨率lattieeresolutiom 利用晶面条纹作为鉴定电镜分辨率性能的标准注:单位通常以纳米(nm)表示 3.3 信息分辨极限informationlimit 高分辨电镜由色差和束发散产生的衰减包络函数所决定的分辨率限制注1:信息分辨率才是场发射电镜实际的分辨极限注2单位通常以纳米(nm)表示 3.4 球差spherieallaberration 由于透镜的边缘部分对电子的折射比旁轴部分强而引起的成像误差注，单位通常以纳米(nm)表示 3.5 加速电压aelerating ougee 为加速从电子源发射的电子而加到灯丝和阳极之间的电位差 3.6 选区电子衍射seleetelareaeleetrndirlraeton;SAED 从选区光阑所选择的样品区域而获得的电子衍射图像注:选区光闹尺寸通常在0.14m一0.5um之间会聚束电子衍射eoveremtleameerndiraetion;CBED 采用会聚电子束从样品的微小区域而获得的电子衍射图像 3.8 电子能量损失谱eleetrn enerylossspeetrometry;EEI.s 利用电子穿过材料产生的非弹性散射而导致的电子能量损失的分布谱,从而可以得到材料的成分和结构信息 3.9 ;STEM 扫描透射显微术scanningtransmissionelectronmieroscpyHs 采用细电子束在薄样品上扫描,然后用不同的探测器接收不同的信号,从而形成的扫描电子像/透射电子像的方法 3.10 球差校正透射电子显微术aberationcorrectedtransmissioneleetronmieroscopy 利用球差校正器来校正透射电镜的磁透镜的球差系数,使得透射电镜分辨率可达10-m级水平的技术
GB/T32267一2015 3.11 电子三维重构术eleetrontomography 从一系列按照一定规律拍摄的二维投影像换而得到三维电子像的技术 3.12 电子全息术eleectronholography 可以同时获得薄样品的振幅和相位信息TEM技术注电子全息术可用于研究材料的内势场分布和磁场分布 3.13 二次电子图像分辨率seeondaryeleetron(SE)imageresolutonm 在SEM所拍摄的二次电子图像中,能够被清楚地分开,而识别的两个图像特征之间的最小间距注:单位通常以纳米(nm)表示 3.14 resolution 背散射电子图像分辨率backscatteredeleetronBSE)ima nage" 在sEMM所拍挺的背散射电子图像巾,能够被清楚地分开,而识别的两个图像特征之同的最小间距注:单位通常以纳米(nm)表示 3.15 扫描电镜图像放大倍率Mscanningeleetronmieroscope(SE1immagemagnifieationM 扫描显示的线性尺度1与试样上扫描范围的相应长度1之比即M=L/I1 3.16 取出角 take-ofagle 电子束在试样表面轰击点与探测器表面中心的连线与试样表面之间的夹角注单位通常以度(")表示 3.17 背散射电子衍射baekseatteredeleetrondfraecton;SsED 通过在块状样品上收集和获得的背散射电子衍射花样注，从而可以分析研究晶体取向、取向分布,晶界特征以及微观织构等信息 3.18 谱峰半高宽fulwidthathalfmaximum;FwHM 谐峰扣除背底后强度最高值一半处的峰宽度质谱仪器原子质量单位 atomicassunit;amu 核素C的一个中性原子处于基态时静止质量的1/12 4.2 标称质量nominalmass 名义质量以天然稳定同位素中丰度最大同位素的整数质量计算的离子质量 4.3 精确质量exaetmas 以构成离子式的各个元素的同位素质量计算的离子质量
GB/T32267一2015 4.4 准确质量aceuratemass 用高分辨方法测定的精确质量值 4.5 质量准确性massaceuraey 质量测定准确性质谐仪对离子质量的测量值与理论值之间的偏差 4.6 质荷比 masschargeratio m/z 离子的质量(m)与它所带电荷数(:)的比值质量范围massrange 质谱仪所能测量的质荷比下限和质荷比上限之间的范围 4.8 质量稳定性massstability 质量标尺稳定性scalestability 质谱仪以标准物标定的质量标尺,在一段时间内,对指定离子质量测量值的变化注，常用原子质量单位每小时(amu)表示 4.9 同位素峰isotopicpeak 质谐中除天然丰度最大核素外,其他种同位素形成的离子峰 4.10 同位素丰度isotopicabundance 同位素在同一元素中所占的百分数 4.11 离子丰度abundanceofions 质谱检测器检渊到的离子信号强度 4.12 相对丰度relatieabundane 按照质谐图中强度最大的离子丰度归一化的离子强度 4.13 ionabundanceratio 离子丰度比在质谱图巾,各个离子丰度所占的百分数 4.14 同位素离子丰度比isoopeionabundaneeratio 在质谱图中,同一元素的各同位素离子丰度所占的百分数 4.15 mmassresolution 质量分辨率质谐仪分辨两个相邻质谱峰的质量差的能力表达式为: R=M/M 注有两种计算方法 -双峰法;M是两个相邻峰的平均质量,AM是相邻峰的质量差,相邻两个峰的峰谷为10%;
GB/T32267一2015 -单峰法;M是最大峰值处的质量,AM是最大峰值半峰高处的峰宽[FwHIM们 4.16 mmassresolutionm 高分辨high 质量测定值达到毫质量单位以下,测定的准确性达到1×10-‘的分辨率 4.17 低分辨lowmassresolwtionm 质量测定值为一个质量单位,测定准确性小于1%的分辨率 4.18 单位分辨率unitresolution 识别一个质量单位的分辨率注;半峰宽[FwHIM]为1 u 4.19 灵敏度sensitiity <质谱仪器>以每毫克(气体样品则以压强单位计)待分析样品获得的信号响应值(库仑或安培表示 4.20 信噪比signaltonoiseratio s/N <质谱仪器>被测样品信号强度s与基线噪声强度N的比值注;该比值与噪声强度蜂值的算法有关信号的最大峰值与基线噪声的最大峰值之比,称峰峰比(P/P); 信号的最大峰值与基线噪声的最大峰值/2之比,称半峰比(P/P)/2; 信号的最大峰值与基线噪声的均方根峰值之比,称均方根比(RMs) 4.21 扫描速度 scanspeed 质谱仪器>在单位时间内扫描(采集)离子质量数目的速度 4.22 全谱采集速率fullrangemassspeetralacquisitionrates 用于非扫描型的飞行时间质谱仪器,以全质量范围的采集速率或每秒采集的谱图数表示注单位为谐图数每秒(spee/s). 4.23 全扫描fllscan 在设定质量范围内对所有质量的离子依次进行检测的过程 4.24 ;SIM 选择离子监测seleetedion monitoring;S 只选择一个或多个特定质量的离子进行检测的过程 4.25 选择反应监测seleetel-reactionmontoring;SRM 在申串联质谱分析中,母离子经过诱导碰撞活化产生一系列子离子,选择一个母离子及其产生的某一特定子离子质量进行监测的过程 4.26 多反应监测multireaetionsmonitoring;MRM 在串联质谱分析中,母离子经过诱导碰撞活化产生一系列子离子,选择多个母离子及其对应的特定
GB/T32267一2015 子离子质量进行监测的过程 4.27 正离子模式positiveionmde 检测带正电荷的离子 4.28 负离子模式neeatireion mode 检测带负电荷的离子 4.29 多反应监测扫描速度mwlti-reaetionsmonitoringseanspeedl 在多反应监测模式下，对所选择的离子每秒重复扫描的次数 4.30 基峰basepeak 质谱图中质荷比范围内强度最大的离子峰注:其相对丰度为100% 4.31 质谱本底backgroundof" massspectrum 在不引人试样时,质谱系统内部残留物或漏气所产生的质谱信号 4.32 总离子流图totalioncurent;rIc 在选定的质量范围内,每一次扫描的离子流强度总和随时间或扫描次数变化的曲线 4.33 质量色谱图masschromatogram;MMC 色质联用分析时,特定质量离子的强度随时间或扫描次数变化的曲线 4.34 ;IKES 离子动能谱ionkinetie eneryspectroscopy; 离子束在扇形电场的作用下按照其平动能与电荷之比分离所得到的质请 4.35 碰撞诱导解离collisioninduceddissciation;cD 碰撞活化解离collisionactirvateddissociation;CAD 具有一定动能的离子与气体分子碰撞时,其动能的一部分转化为内能,由此激发的离子解离 4.36 nmilarity oflib 谱库检索匹配度 sim braryresearch 仪器实际检测得到的质谱图与谱库中检索到的质谱图的相似程度 4.37 分子离子 moleeularion 分子在离子化过程中未碎裂,只失去或得到一个电子,形成的正或负离子注，其质荷比于相对分子质量 4.38 准分子离子quasimoleeularion 分子在离子化过程中增加或减少某一特定质量碎片形成的离子注:在谐图中其位置与分子离子相近,质量数与相对分子质量存在简单的关系,由它可以推测相对分子质量 4.39 质子化分子protonatedmoleewle 中性分子捕获一个或多个质子形成的正离子,通常表示为[M十nH]"
GB/T32267一2015 注:M代表中性分子,H代表质子,n代表质子数 4.40 去质子化分子deprotonatedmoleeule 中性分子失去一个质子后形成的离子,通常表示为[M-H]+、[M一H] 注:M代表中性分子,H代表质子 4.41 碎片离子rragmention 分子在离子化过程中碎裂形成的片段离子 4.42 多电荷离子multiply-ehargeliom 带有2个或2个以上电荷的离子 4.43 母离子 parentionm 前体离子 precursorion 在裂解反应中发生碎裂生成碎片离子的任一质量离子 4,44 产物离子 produetion 子离子daughterionm 在裂解反应中任一质量离子经一级或多级醉裂生成的醉片离子 x射线仪器 5.1 额定管电压ratedltubevotage X射线管在额定的条件下,加在阳极与阴极之间最大的电压峰值 5.2 额定功率rated power 在 -定的使用条件下,X射线管工作时,加在X射线管阳极的功率的最大容许值 5.3 高压稳定度highvotagestability 测量高压时取样电压的级差值与平均值之比 5.4 探测器能量分辨率energyresolwtionfdeteetor 探测器的脉冲幅度分布曲线的能量峰半高宽与能量峰值电压之比值 5.5 衍射角分辨率diffraction resolutionm angle！对标准物质/标准样品某一晶面的Ka1, kK稻射角度的分辨能力 5.6 分辨率resolution X射线能谱仪>能量相近的两个峰的区分能力注:通常以5.89keV的MnkK峰的半高宽表示相对灵敏度因子relatiesensitivityfaectors;RSF 与标准样品中已知的,并经过标定元素面密度的计数率相关的因子 l0
GB/T32267一2015 5.8 x射线强度X-rayintensity 在束x射线中每秒检测到的光子数 5.9 信号强度signalintensity 经脉冲处理后,能谱仪输出的以每通道计数或每通道每秒的计数所表示的量 5.10 积分强度integratedintensity 单位长度衍射线上接收到的累计能量注;实验上是指该行射峰的积分计数与本底计数之差物相定量分析采用积分强度 5.11 特征X射线characteristicX-ray 原子内层电子空位被来自外层的电子填充时所发射的x射线 5.12 衍射强度difraetionintensity 样品晶面对X射线衍射时检测到的计数 5.13 步进扫描stepscanning 在扫描过程中,样品与探测器逐步前进,每走一步停若干秒时间,以记录衍射强度的过程 5.14 连续扫描continuescanning 在扫描过程中,样品与探测器是不停的转动,在转动中记录衍射强度的过程 5.15 角扫描anglescanm 作为掠射角函数,对发射的荧光信号的测量 5.16 分析线analyzinglines X射线仪器一衍射图中选作定量分析用或作线形分析用的衍射线 5.17 波长色散wavelengthdispersion X射线仪器>通过衍射作用使X射线实现按波长的空间分离 5.18 能量色散energydispersion X射线仪器>使x射线光子按能量大小分离 5.19 全反射X光荧光光谱的掠射角IxRFglaneingangle 全反射X光荧光光谱法中X射线的人射角度 5.20 临界角eritiealangle 当被测表面发生对人射X射线的全反射时低于某一角度的掠射角,即能产生全反射的最大角度 5.21 全谱拟合wholepatterfitting 用含有若干个可变参数的公式计算出粉末衍射谱,改变其中的一些参数,使整个计算谱与实验测定 1l1
GB/T32267一2015 谱相吻合的过程 5.22 少扫描phiscanning 面内扫描inplanescanning 将探测器固定在被测反射面的衍射角位置,并使被测样品在任一倾角上和沿平面内转动的过程 5.23 o扫描omegascanning 面外扫描 ofplanescanning Out 将探测器固定在被测反射面的衍射角位置，并使被测样品在面外位置的左有转动的过程 5.24 衍射线的分辨率diffraetonlineresolwtionm 分辨衍射角非常接近的两个衍射峰的能力光谱仪器光谱干扰speetralinterferenee 光谱重叠、光散射、非吸收光和背景辐射等引起的干扰电离干扰ionizationinterflerenee 由于原子在高温下电离而引起的干扰 6.3 液相干扰liquidphaseinterferenee 发生在液相或去溶剂过程中影响被测元素反应速度或效率的物理化学干扰气相干扰gasphaseinterferenee 来源于被测元素在离解中或离解后发生在气相中影响被测元素的物理化学干扰 6.5 背景background 未引人被测元素(或引人空白溶液)由非被测组分在被测元素谱线处产生的信号响应值 6.6 校正曲线线性范围linearity ofcalibrationcurve range 在 -定显著性水平下进行拟合优度检验不存在失拟的条件下一元回归线所跨越的最大的线性区间注:有标准文件中表述为;仪器的输出与输人呈一次函数关系的线性,用一元线性回归方程所计算出的相关系数" 来表示相关系数只能表示输出与输人量之间动态变化,即线性动态范围,而非线性范围绝缘强度 insulation strengt 在仪器指定的绝缘部分之间施加规定的直流电压或正弦交流电压时,在此电压下不产生飞弧或跨越绝缘材料的电流不超过规定值 6.8 吸光度absorbance 透射率(T)倒数的以10为底的对数,A一lg)=一lgT 12
GB/T32267一2015 6.9 吸收谱带absrptionband 吸光度最大处的吸收光谱范围 6.10 摩尔吸收率absorptivitymolar 吸收率和物质摩尔质量的乘积 6.11 分析波长analytienlwavelength 用于确认样品的组成,而进行吸光度或谱线强度测量的波长 6. .12 衰减全反射attenuatedtotalrefleetion;ATR 在完全内反射过程中存在耦合吸收时的反射,其反射率小于1 6.13 基线baseline 任何绘制于吸收光谱上的线,用以确立表示某个给定波长下人射到样品上的辐射能量的函数的参考点 6.14 漫反射difuserefleetion" 在表面或表面以下,反射光由于漫射分散在很多方向的反射现象 6.15 频率 freqeney 单位时间内电磁场振动的次数注:单位为赫兹(Hz). 6.16 等吸收点isobesticpoint 两个或更多组分的吸收率相等的波长 6.17 光度测量线性photometrielinearity 光度测量系统提供人射到其检测器上辐射能量和系统可检测的某些可测量值之间线性关系的能力 6.18 拉曼位移 Ramanshift 拉曼谱线(带)的波数同人射单色光波数的偏离 6.19 参考光谱refereneespeetrum 已知的样品光谱 6.20 样品光谱samplespeetrum 包括分析样品光谱特征的单光束光谱或比例光谱 13
GB/T32267一2015 6.21 散射seattering,90" 在相对于人射光90"角方向观测到的散射 6.22 自淬灭self-quenching 激发态的原子或分子同基态的相同原子或分子反应引起焚光减猾的现象 6.23 光谱狭缝宽度speetralslitwidth 出射狄缝的机械宽度除以出射狭缝平面的线性色散 6.24 杂散光能量strayradiantenergy 由非研究的光谱位置的波长处到达检测器的所有辐射能量 6.25 光通量throughput 光束在焦点处的面积,固体角度,光束聚焦处介质折射率的平方的向量积 6.26 透射率transmittanee 穿过样品的辐射能量同照射到样品的辐射能量的比例 6.27 边缘波长噪声noiseofmarginalwavelength 在仪器使用的波长范围的两边界波长处,在规定的时间内所测得的瞬时噪声 6.28 背景校正能力backgroundcorreetionpower 在优化条件下,仪器能扣除某一指定波长处背景的最大能力以在无背景校正模式与有背景校正模式下测得的吸光度的比值表示 6.29 短期稳定性short-ermstability 光谱仪在规定的较短时间内连拨渊量同一样品的结果的稳定程度以调定做的相对标准偏差表示 6.30 长期稳定性long-termstability 仪器在较长时间内不同时段,在规定的时间内连续测量同一样品的结果的稳定程度注:一般以测定值结果的并合相对标准偏差表示 6.31 道间干扰mutualinterferencebetweenchannels 仪器进行多通道测量时,测量通道之间的相互干扰注;用E,(%)表示 6.32 漂移drif 仪器输人-输出特性随时间的慢变化 6.33 浓度灵敏度coneentrationsensitiity 试样中被分析组分单位浓度改变引起检测器所产生的信号量 14
GB/T32267一2015 6.34 质量灵敏度 sensitivity maSS 试样中被分析组分的单位质量改变引起检测器所产生的信号量,用校正曲线的斜率表示 6.35 特征质量characteristicmass 产生1%吸收或0.0044吸光度所需要的分析元素的质量 6.36 全程分析时间fullanalysisoftime 从开始处理样品到得到最终分析结果所经历的时间 6.37 采样间隔 amplingintervat Sal 在干涉图中,连续采样点之间的光程差的差异 6.38 采样频率samplingfrequeney 单次扫描中,干涉图每秒钟数字化的数据点数目 6.39 wavelengthaceuracy 波长准确度仪器波长指示器上所指示的波长值与实际波长值之差 6.40 波长示值误差indicationeror ofwavelength 仪器示值与被测量的(约定)真值之差 6.41 aahilitsy 波长重复性 wavelengthrepeati 仪器波长指示器多次指示同一波长值的一致性 6.42 雾化效率neblizatimelieieney 溶液转换成气溶胶的比率 6.43 atomline 原子发射谱线原子内部电子跃迁形成的谱线 6.44 离子发射谱线ionline 离子内部电子跃迁形成的谱线 6.45 入射功率forwardpower 电感合等离子体仪器射频发生器的输出功率 6.46 反射功率refleectedpower 电感耦合等离子体仪器射频发生器功率输出线路中优于匹配状态变化引起的返回功率 15
GB/T32267一2015 色谱仪器填料粒度 particlesize d，填料颗粒的平均直径注，单位为微米(gm) 7.2 流动相mobilephase 色谱分离过程中携带样品通过固定相并影响分离结果的流体流动相可以是液体、气体或超临界流体 7.3 flowrate 流速在色谐柱出口的温度和压力下测得的体积流量注:单位为毫升每分ml/min). 测试样品testsample 校正仪器时选用的标准样品溶液注:单位为克每毫升/ml) 7.5 进样体积injeetionvolunme 测试时引人色谱系统的样品溶液体积注单位为微升(gL)或毫升 (ml 7.6 保留时间 retentiontime 样品组分在色谱柱中滞留的时间,即从进样到色谱略最大值出现所需要的时间,见图1 l6
GB/T32267一2015 实菜 O2 图1保留时间注:单位为分(min). 7.7 保留体积 retentionvolu1e 保留时间所对应的流动相体积,即样品组分从进样到色谱峰最大值出现所需要流动相的体积,等于流速与保留时间的乘积注:单位为毫升(nl). 7.8 死时间 deadti1e to 不被固定相滞留的样品组分从进样到色谱峰最大值出现所需要的时间注1:色谱系统的死时间是包括色谱柱、进样系统、管线接头和检测器的总死时间的总和注2:单位为分(nmin). 7.9 调整保留时间adjustedretentiontime 保留时间与死时间之差 7.10 死体积deadolume 不被固定相滞留的组分的保留体积注1:色谱系统的死体积是包括色谱柱、进样系统、管线接头和检测器的总死体积的总和注2:单位为毫升每分(mL/nmin 7.11 调整保留体积adjustedretentionvelume 保留体积与死体积之差 7.12 相对保留值relatieretentionvale 在相同色谱条件下两个色谱峰的保留值之比 17
GB/T32267一2015 7.13 等度洗脱isoeratieeution 流动相的组成(洗脱能力)恒定的洗脱方法 7.14 梯度洗脱gradientelutonm 流动相的组成(洗脱能力)随时间进行梯度变化的洗脱方法 7.15 高压梯度high-pressuregradient 使用两台以上的高压输液泵协同完成梯度输液,继而进行洗脱的梯度洗脱模式 7.16 低压梯度low-pressuregradient 使用一台高压输液泵,以程序控制的电磁阀启闭不同的流动相流路,完成梯度输液,继而进行洗脱的梯度洗脱模式 7.17 进样量samplesize 向色谱分离系统中引人进行分离或检测的样品溶液的体积或样品质量 7.18 压力上限pressure elhighlimit 可设定的输液泵或色谱仪整机正常运转的最高压力 7.19 压力下限pressurelowlimit 可设定的输液泵或色谐仪整机正常运转的最低压力 7.20 ediameer 孔径por 多孔色谱填料上所有孔的平均直径 7.21 封尾endcapping 封端采用硅婉化试剂与硅胶基键合固定相上残留的硅羚基反应,以减少或消除残留硅羚基引起的二次保留作用 7.22 碳含量 arboncontent 化学键合相硅胶基质填料中碳元索的百分含量 7.23 全多孔型填料maero-retieularpackingmaterial 整体具有孔道结构的填料 7.24 表面多孔填料superficiayporouspackingmaterial 核壳式填料表面具有孔道结构而核心为无孔结构的填料 7.25 化学键合固定相bondedstationaryphase 键合相 18
GB/T32267一2015 通过化学反应将功能基团共价键合到基质如硅胶或聚苯乙烯-二乙烯苯树脂小球)表面或柱管内表面后得到的色谱固定相 7.26 手性固定相echiralstationaryphase 具有手性选择性的固定相 7.27 键合型离子交换剂 bondelionexchanger 通过化学反应将功能基团共价键合到基质表面制备的离子交换剂 7.28 薄壳型离子交换剂pellicultrionexchan nger 表面具有孔道结构而核心为无孔结构的离子交换剂 7.29 离子交换容量ionexchangecapaeity 交换容量单位质量离子交换剂所能交换的离子物质的量 7.30 排斥极限exelusionlimit 排阻极限不能进人填料孔内而直接排出体积排阻色谱柱的溶质分子的最低分子量 7.31 内标物intermalstandard 加人到待测样品中作为测定待测组分含量的参照标准的已知质量或含量纯物质 7.32 普适校准曲线universnlcalibrationcurve universalcalibrationfunction 普适校准函数在体积排除色谱法中,用流体力学体积作为分子参数的分离校准曲线或函数 7.33 色谱峰chromatographicpeak 色谱柱流出组分通过检测器系统时所产生的响应信号的微分曲线 7.34 基线baseline 在正常操作条件下,仅有流动相通过检测器系统时所产生的响应信号的曲线 7.35 峰高peakheight 从峰最大值到峰底的垂直距离 7.36 峰面积penkaren 色谱峰轮廓线与基线之间的面积 7.37 色谱峰宽度chromatographicpeiakwidth 在峰两侧拐点(参见图1中的F,G)处切线与峰底相交两点间的距离(参见图1中的KL) 19
GB/T32267一2015 7.38 塔板理论platetheory 将色谱柱视为单级蒸憎的小塔板组成的精憎塔,借助化工原理中的塔板概念,描述色谱柱中溶质的浓度变化、分配平衡和分离效率的理论 7.39 等效理论塔板高度heightequivalenttoatheoreticalplate;HrTP 塔板理论中单位理论板的高度,可由下式表示 H=L/n 式中色谱柱长,单位为毫米(mm); 理论塔板数刀n 7.40 理论塔板数numberoftheoreticalplates 用于评价色谱柱分离效率的参数,可由下式表示 tR =16() n 1=5.54 wh/" 式中: 保留时间,单位为分(min); lR -峰宽,单位为毫米(mm),或以时间表示,单位为分(min); o" 半峰宽,单位为毫米(mm),或以时间表示,单位为分 min oh 7.41 超临界流体supereritielluid 物质在高于其临界压力和临界温度时的一种状态 7.42 临界压力eriticalpressure 在临界温度时,使气体液化所必须的最低压力 7.43 临界温度eritiealtemperature 物质处于临界状态时的最高温度注高于临界温度,无论加多大压力都不能使气体液化 7.44 临界密度critcealdensily 超临界物质处于临界点时的密度 7.45 retentionfacto 保留因子样品组分在固定相中滞留时间(相对于在流动相的时间)的度量,即调整保留时间和死时间之比,可由下式表示 lR k= 20
GB/T32267一2015 式中色谱柱死时间,单位为分(min): l0 色谱峰保留时间,单位为分(min). lR 7.46 选择性因子seleetiityfactor 相邻两色谱峰保留因子之比,可由下式表示式中相邻色谱峰1的值; k 相邻色谱峰2的人值 k 7.47 分离度 resolution R 相邻两色谱峰的分离程度,即两个组分保留时间之差除以其平均峰宽值,可由下式表示参见图2): 2 tR1 R=2 ow十w2) 式中保留时间,单位为分(nmin); lR -两个相邻色谱峰的峰宽,单位为分(min). w1w？拙燕图2分离度 7.48 检测器灵敏度deteetorsensitiity 被测组分的量或浓度改变一个单位时分析信号的变化量 7.49 流量精度preeisionoflowrate 在流量范围内,重复设置相同流量数值并输送的流量的标准偏差(RsD). 21
GB/T32267一2015 7.50 流量准确度aeeuraeyofflowrate 在流量范围内,实测流量与流量设定值的相对偏差 7.51 紫外-可见光检测器的噪声noiseofultraviolet-visiblelihtdeteetor 由各种与样品无关的原因所引起的紫外-可见光检测器基线的无规波动注单位为指定波长下的吸光度(A. 7.52 紫外-可见光检测器的飘移drittofutraviolet-visiblelightdeteetor 由各种与样品无关的原因所引起的紫外-可见光检测器基线的长时程偏移注:单位为指定波长下的吸光度(A 7.53 engthbhand Iwidthofultraviolet-visiblelightdetector 紫外-可见光检测器波长带宽 waVelen 紫外-可见光检测器内设定或可调节的经分光后光束所覆盖的波长宽度注:单位为纳米(nm. 7.54 紫外-可见光检测器波长准确度aceuracofultravioletvisibleliehtdetector 紫外-可见光检测器所使用波长与设定波长的符合程度注单位为纳米(nm) 7.55 紫外-可见光检测器波长重复性repeatabiltyofultravioletvisiblelightdetector 在允许使用范围内,多次设定并实际运行的波长值与设定值的符合程度注:单位为纳米(nm 7.56 aseline 基线在无被测物质的条件下,仪器的响应信号曲线 7.57 噪声 noise 由各种随机因素所引起的基线的随机波动 7.58 信噪比signaltonoiseratio s/N 仪器检测的被测物质信号与该检测条件下的噪声信号之比波谱仪器 8.1 自由感应衰减freeinductiondecay;FID 自旋系统受射频脉冲作用后,在接收线圈中感应产生的一个谐振信号,该信号强度随时间而衰减 8.2 化学位移ehemiealshirt 处于同一静磁场中的磁性核,由于其在分子中所处的化学环境不同,而在不同的频率下发生共振的 22
GB/T32267一2015 现象以相对于特定参比化合物的共振频率的差值与参比化合物的共振频率的比值来表示用下式表示: =(y一y,)/y,×10" 式中: 化学位移被测试样谱线的共振频率; 参比化合物谱线的共振频率 8.3 卫星峰satellitepeak 由于其他低丰度的具有核磁矩的核素与被测核素产生自旋耦合裂分,从而在核磁共振谱线的两边出现对称的两组小峰注这两组峰之间的间距即为两种核素之间的耦合常数参比化合物refereneecompound 放置在试样中,所产生的谱线作为化学位移参考的化合物注;常用的参比化合物为四甲基硅烧[si(CH,)] 8.5 锁信号leksgnal 用来控制波谱仪磁场稳定性的场频联锁的核磁共振信号注:通常由爪代溶剂里的尔共振信号作为锁信号 8.6 场频联锁fied-frequeneyinterloek 在核磁共振波谱仪中,为了提高磁场的稳定性,用参考核磁共振信号使磁场与射频(或共振)频率同步跟踪,以保持磁场与频率相对关系的稳定的技术 8 匀场shimming 用多组匀场线圈产生不同方向且正交的弱磁场梯度以补偿或抵消磁体自身磁场的不均匀性技术 8.8 调谐tuning 将探头调节到特定谐振频率下最佳状态的过程注实际上包含两个部分将探头准确地调谐到特定核的观测频率上,即调谐将探头的阻抗调节到与线路的阻抗相等或尽量一致,以尽量降低功率反射系数,即调节匹配 8.9 自旋去耦spindecoupling 消除同核或异核之间的自旋合作用注:可采用连续波去或者组合脉冲去棚 8.10 旋转边带spinningsidebanad 试样旋转时,由于磁场的不均匀性而在主信号峰的两边出现与主信号峰的间隔为旋转频率或其整数倍的对称的调制谱峰 8.11 线宽linewidth 共振谱峰的宽度通常用半高宽(41a)表示 23
GB/T32267一2015 8.12 线形 ineshape 核磁共振谱线的形状注:核磁共振谱线的理想线形为洛伦兹线形,但通常在经过处理之后可能为洛伦兹线形、高斯线形或两者的混合线形 8.13 自旋-自旋耦合常数spin-spincouplingconstant 自旋-自旋耦合相互作用强度的度量注:单位为赫兹(Hz). 8.14 灵敏度sensitivity 波谱仪器>仪器检测弱信号的能力通常用标准试样特定谱峰的信噪比s/N表示 8.15 分辨率resoluton 波谱仪器>对两条相邻共振谱线的分辨能力,以标准试样谱线的线宽来表示 8.16 采样时间agutsitiontme 在傅立叶变换核磁共振波谱法中,指接收机采集自由感应衰减信号的时间 8.17 采样频率samplingfrequeney 在脉冲傅立叶变换核磁共振波谱法中,模数转换器将FID信号变成数字信号的数据点采集的频率 8.18 窗函数windowfunetionm 在脉冲傅立叶变换核磁共振波谱法中,为提高信噪比或分辨率,在把FID信号进行傅立叶变换之前所施加的加权函数 8.19 脉冲翻转角pulsenipangle 在脉冲傅立叶变换核磁共振中,射频脉冲使磁化矢量发生旋转的角度 8.20 延迟时间dela 脉冲序列中发射各个脉冲或者梯度脉冲之间的间隔时间注其中弛豫延迟时间位于一个脉冲序列的最开始,其目的是确保在施加激发脉冲之前建立自旋系统的热平衡 8.21 频率偏置frequeneyofrset 发射机的发射频率与特定核素的发射机基本设定频率之间的差值注也可以用于表示选择性脉冲的中心频率与发射机频率之间的差值 8.22 spetralwtdth 谱宽核磁共振实验中采集信号的频率范围 8.23 磁场漂移magneticfieddrirt 磁体受外部环境变化所发生的磁场强度微小降低,用Hz/h来表示 24
GB/T32267一2015 电化学仪器 9.1 分辨率resolutiom <电化学仪器>一测量中可以观察到的最小信号变化值 9.2 最大输出电压maximumoutputvoltage 电化学仪器正常工作时所能输出的最大电压 9.3 最大输出电流maximumoutputeurrent 电化学仪器正常工作时所能输出的最大电流电流检测下限nminimummeasuredeurrent 在允许误差范围内所能检测的最小电流 9.5 电位扫描范围appliedpotentialranges 能施加在电解池上的最大正负电位 9.6 电位分辨率potentialresolutionm 测量中可以观察到的电位的最小变化值电流范围currentranges 在允许误差范围内能测量的最大和最小电流 9.8 电流分辨率 meaSuredcurrentresolution 测量中可以观察到的电流的最小变化值 9.9g 扫描速率 Scanrate 电极电势随时间的变化率 9.10 工作通道数 numberofworkingchannels 仪器能控制的工作电极同时工作的数目注:单通道是指只能控制一支工作电极,双通道是指能控制两支工作电极 9.11 pH分辨率pHresolutionm 能分辨的最小pH变化 9.12 电动势分辨率potentialresolutionm 电位计能分辨的最小电池电动势的变化 9.13 电势上升时间potentialrisetimme 电势从一个值变化到另一个稳定的值需要的时间 25
GB/T32267一2015 9.14 电势降补偿IRdropcompensationm 用反馈电路补偿电流通过未补偿的溶液电阻产生的电势降 9.15 输入阻抗inputimpedance 电路输人端的等效阻抗注:在输出端短路时,输人端测得的阻抗 9.16 温度补偿temperaturecompensationm 抵消或减少仪器输出的温度漂移所采取的补偿措施 9.17 频率范围frequeneyranges 交流阻抗测量频率的最大值和最小值 9.18 温度分辨率temperatureresolwtion 仪器能分辨的最小温度变化 l 光学显微镜及图像分析仪器 10.1 视场viewfied 通过可视设备所观察到的区域 10.2 测试框 eaSureentfirame 对颗粒进行计数和图像分析的视场内的区域 10.3 二值化图像binaryimage 由一系列数值为0或1的像素构成的数字图像注:在可视屏上这些数值通常显示为明,暗两种区域,或由两种不同颜色的伪彩色图表示 10.4 费雷特直径Feretdiameter 与颗粒图像轮廓两边相切的平行线之间的距离 10.5 1uivalentcirculardiameer 等效圆直径eq 埃伍德直径Haywoodeireulardiameter 与颗粒投影有相同面积的圆的直径 10.6 灰度图像greyimage 不同灰度等级像素组成的图像 10.7 图像分析imageanalysis 对数字化图像进行处理的过程或方法 26
GB/T32267一2015 10.8 分辨率rsolin说" p0wer <显微镜>以物面上两点刚能被分辨开的距离或以像面上1mm内被分开的线对数度量 10.9 数值孔径numeriealaperture;NA 透视孔径角的正弦与物点所在介质的折射率之乘积 10.10 隧道电流tunnelingceurent 当探针和样品间隙达到纳米尺度时,在外加电场的作用下,电子穿过两个电极间的势垒流向另一电极而产生的电流 10.11 灰度graylevel 显示在终端屏幕上的界于黑白之间的深浅值域 10.12 工作距离workingdistanee 之显微镜>物镜前表面顶点到物平面的沿轴距离 10.13 物镜齐焦距离parlfoealizingdistaneeoftheobjeetive 物镜的安装定位面和无覆盖物体的表面之间的距离 10.14 物镜的像距imagedistanceoftheobjeetive 初次像面与物镜的定位面之间的距离注:当目镜被安放在观察筒上时,该焦平面和显微镜的初次像面重合 10.15 目镜的齐焦距离parfocalizingdistanceoftheeyeptece I 第一次像面和目镜的安装定位面之间的距离 10.16 欧拉数Eulernmber 在二值化图像中,物像数与物像内部孔洞数之差 10.17 超薄切片utrathinseetion 采用超薄切片机将生物样品经固定包埋后,切成厚度为60nm80nm的超薄片 10.18 边缘界定edgfinding 判定物像与背景间边界的过程 10.19 闪变方法lickermethod 在原图像和处理后的图像之间进行切换比较,以调节灰度门槛值的方法 27

分析仪器性能测定术语GB/T32267-2015解读

GB/T32267-2015是我国分析仪器领域的一项标准，旨在规范分析仪器性能测定术语及其表示。该标准包含了大量的性能指标及其定义、测量方法等内容，对于分析仪器的使用和管理具有重要的参考价值。

一、性能指标

在GB/T32267-2015标准中，涉及到了很多分析仪器的性能指标，包括：

灵敏度
检出限
线性范围
精密度
准确度
选择性
响应时间

这些指标都是评价分析仪器性能优劣的重要标准。

二、性能指标定义

在GB/T32267-2015标准中，每个性能指标都有明确的定义，以灵敏度为例：

灵敏度：检测方法对分析对象变化的响应程度。通常用信号与噪声比（S/N）表示。

可以看出，灵敏度是指检测方法对分析对象变化的响应程度，而其具体的测量方法则使用信号与噪声比（S/N）来表示。

三、性能指标测量方法

除了定义之外，GB/T32267-2015标准还详细规定了各个性能指标的测量方法，以线性范围为例：

线性范围：分析结果与被测量值之间呈线性关系的范围。

该标准规定了线性范围的测量方法为：在一系列不同浓度的标准溶液中进行测量，绘制曲线并确定线性范围。

四、总结

通过本文介绍，我们了解了GB/T32267-2015标准中涉及到的各种性能指标及其定义、测量方法等内容。这些指标是评价分析仪器性能优劣的重要标准，对于科学研究和工业生产具有重要的参考价值。